1、使用指针万用表检查可控硅极性和好坏方法
根据PN结原理，可控硅三个极之间的电阻值，可用欧姆挡“R×10”或“R×100”挡测量来判别好坏。可控硅的控制极G与阴极K之间是一个PN结，在正常情况下，它的正向电阻在几十欧到几百欧之间，一般反向电阻比正向电阻要大。有时测得控制极反向电阻较小，不一定说明控制极特性差，主要应看其是否符合PN结的特点。
2、使用数字万用表检查可控硅极性和好坏方法
判断可控硅的电极数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下的则是阳极A。假如两次都显示溢出，说明红表笔接的不是控制极，需更换电极重测。
测试可控硅的触发能力数字万用表拨至PNP挡，此时hFE插口上的两个E孔带正电，C孔带负电，电压为2.8V。可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K引线分别插人E孔和C孔，控制极G悬空。此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示000。
把控制极G插入另一个E孔。显示值将从000开始迅速增加，直到显示溢出符号后，立即又变成000，然后再次从000变到溢出，这样周而复始。采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。但这样的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。
如果使用NPN挡，可控硅阳极A应接C孔，阴极K接E孔，以保证所加的是正向电压。检查触发能力时，控制极不要插入B孔，因B孔的电压较低，可控硅无法导通。
